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雙折射測量儀
應(yīng)力雙折射測量儀PA系列
PA-300PHL 應(yīng)力雙折射檢測儀PA系列
產(chǎn)品型號(hào):PA-300
更新時(shí)間:2026-01-16
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:175
服務(wù)熱線010-69798892
產(chǎn)品分類
| 品牌 | Photonic Lattice | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天 |
PA系列是Photonic lattice公司采用自研的光子晶體技術(shù),針對(duì)玻璃、SIC晶圓、藍(lán)寶石等低應(yīng)力雙折射的測量系統(tǒng),數(shù)秒給出被測產(chǎn)品的應(yīng)力雙折射大小和分布信息
產(chǎn)品簡介:
PHL 應(yīng)力雙折射檢測儀PA系列針對(duì)高雙折射的透明材料開發(fā)的光學(xué)測量設(shè)備,通過核心的偏光圖像傳感器,可以快速準(zhǔn)確的測量透明材料的應(yīng)力雙折射,針對(duì)不同產(chǎn)品尺寸,均有可匹配的型號(hào)可供選擇。
主要特點(diǎn):
可快速自動(dòng)測量應(yīng)力雙折射的大小、方向和分布
面測量、可一次測量視野范圍內(nèi)樣品的全部數(shù)據(jù)
具備點(diǎn)、線、面、3D的分析功能
500萬像素,高分辨能力
可輸出光程差(nm)、偏振角度(°)、應(yīng)力(Mpa)、應(yīng)力雙折射(nm/mm)
技術(shù)參數(shù):

測量案例


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