雙折射測量儀PA-Micro操作簡單，測量速度可以快到3秒。更直觀的全面讀取數(shù)據(jù)，無遺漏數(shù)據(jù)點。具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。維護(hù)簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)。高達(dá)2056x2464像素的偏振相機(jī)。

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更新時間：2026-01-16

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雙折射測量儀

應(yīng)力雙折射測量儀PA系列應(yīng)力雙折射測量儀WPA系列顯微型雙折射測量儀晶圓應(yīng)力雙折射測量儀在線型應(yīng)力雙折射測量儀偏振相機(jī) 膜厚測量儀

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高效精準(zhǔn)！WPA系列應(yīng)力雙折射檢測設(shè)備，賦能透明材料檢測新升級

岡本減薄機(jī)為企業(yè)帶來利益

認(rèn)識注塑件內(nèi)應(yīng)力檢測儀：滿足注塑生產(chǎn)質(zhì)量控制需求

產(chǎn)品介紹

品牌	其他品牌	價格區(qū)間	面議
數(shù)顯功能	有	溫控功能	有
產(chǎn)品種類	臺式	產(chǎn)地類別	進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域	建材/家具,電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天,汽車及零部件

PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片，高精度同步協(xié)調(diào)的雙折射算法設(shè)計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內(nèi)，特別是工業(yè)界雙折射測量/應(yīng)力測量的選擇。

雙折射測量儀PA-Micro主要特點：

操作簡單，測量速度可以快到3秒。
視野范圍內(nèi)可一次測量，測量范圍廣。
更直觀的全面讀取數(shù)據(jù)，無遺漏數(shù)據(jù)點。
具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。
維護(hù)簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)。
高達(dá)2056x2464像素的偏振相機(jī)

雙折射測量儀PA-Micro應(yīng)用領(lǐng)域：

通信光纖
晶體
醫(yī)學(xué)細(xì)胞

技術(shù)參數(shù)：

項次	項目	具體參數(shù)
1	輸出項目	相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應(yīng)力換算（選配）【MPa】

2	測量波長	520nm

3	雙折射測量范圍	0-130nm

4	測量小分辨率	0.001nm

5	測量重復(fù)精度	<1nm（西格瑪）

6	視野尺寸	142x170um到3.5x4.2mm (×2，×5，×10，×20，×50)

7	選配鏡頭視野	無

8	選配功能	實時解析軟件，鏡片解析軟件，數(shù)據(jù)處理軟件，實現(xiàn)外部控制