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雙折射測量儀
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應力雙折射測量系統(tǒng)WPA系列可測量相位差高達3500nm,適合PC高分子材料,是Photonic lattice公司以其光子晶體制造技術開發(fā)的產(chǎn)品,的測量技術使其成為的光學測量產(chǎn)品。該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量,全面掌握應力分布。WPA-200型更是市場上的多功能機器,適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結(jié)果,二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。
玻璃應力雙折射測量系統(tǒng)PA系列分布測量儀:理想的光學玻璃是各向同性的,但在退火過程中由于玻璃內(nèi)外溫度不同,或者退火爐內(nèi)各處溫度不等都會產(chǎn)生內(nèi)應力。光學玻璃內(nèi)應力的存在,破壞了各向同性,產(chǎn)生雙折射現(xiàn)象,即內(nèi)部應力的分布現(xiàn)象,現(xiàn)在利用測量雙折射現(xiàn)象來改進光學玻璃的生產(chǎn)工藝,以及用來對光學玻璃的質(zhì)量控制,成為世界光學玻璃廠商的手段。
紅外應力雙折射測量系統(tǒng)WPA-NIR硫系,紅外樹脂等材料對可見光不透過,這樣的樣品殘余應力評估很難實現(xiàn),為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀,采用850nm或940nm波長,能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應力分布。
玻璃應力雙折檢測系統(tǒng)PA300和PA300-L是Photonic lattic公司以其Lxian世界的光子晶體制造技術開發(fā)的產(chǎn)品,高精度的測量技術,高速而又的測量3D玻璃,晶體等產(chǎn)品的雙折射效應,得出的相位差數(shù)值,從而量化出產(chǎn)品應力數(shù)值,在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量,全面掌握應力分布。廣泛應用于手機3D玻璃的研發(fā),生產(chǎn),質(zhì)量測試中。
玻璃內(nèi)應力測量儀是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術的光子晶體偏光陣列片,高精度同步協(xié)調(diào)的雙折射算法設計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業(yè)內(nèi),特別是工業(yè)界雙折射測量/應力測量的選擇。
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